[发明专利]一种多工位镭射平面度扫描量测方法在审

专利信息
申请号: 201410633661.8 申请日: 2014-11-12
公开(公告)号: CN104406517A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 郭进顺;郑杰仁;张家齐 申请(专利权)人: 昆山万像光电有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 215300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种多工位镭射平面度扫描量测方法,具体步骤:a、装夹待测物;b、预设需要量测的点的坐标位置;c、调整多个镭射头至待测点所在轨道位置上;d、多个镭射头不停顿直线扫描,以运动控制卡控制采集卡的数据收集动作,采集信息;e、将采集到的点的信息进行比对。本发明的有益效果是:能够快速测量平面度、线性度、点位高度等数据,且更换工件无需等待地持续进行量测的测量方法。
搜索关键词: 一种 多工位 镭射 平面 扫描 方法
【主权项】:
一种多工位镭射平面度扫描量测方法,具体步骤:       a、将待测物装夹在待测物固定装置上;       b、在运动控制卡中预设需要量测的点的坐标位置;       c、调整多个镭射头至待测点所在轨道位置上;       d、多个镭射头不停顿直线扫描,以运动控制卡控制采集卡的数据收集动作,采集信息;       e、将采集到的点的信息进行比对。
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