[发明专利]一种无损检测梨的硬度方法在审
| 申请号： | 201410630019.4 | 申请日： | 2014-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN104359838A | 公开（公告）日： | 2015-02-18 |
| 发明（设计）人： | 李柏承;侯宝路;周瑶;李梦远;徐邦联;王琦;张大伟;黄元申 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种无损检测梨的硬度方法，通过可见-近红外波段的高光谱成像系统测得多个不同种类的梨的高光谱图像，再通过黑白版校正，将高光谱图像中每一点的光谱响应强度转换成统一的0-100%的反射率图像，再通过Labview软件对图像的亮度进行提取和着色，将不同的亮度区域区分开，然后在同一颜色区域选取10个不同的点求平均代表整个梨的反射率，结合梨的反射率曲线提取每一波段的反射率信息通过PCA提取特征波段，通过国家标准方法测得的梨的硬度的实际值，再用PLS算法建立回归模型，得到各种类梨的回归方程，根据回归方程，便可通过测量所测梨的光谱图，计算出所测梨的硬度。可以广泛应用于梨的质量检测，检测过程，方便、快捷、无损、准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无损 检测 硬度 方法 | ||
【主权项】：
一种无损检测梨的硬度方法，其特征在于，通过可见‑近红外波段的高光谱成像系统测得多个不同种类的梨的高光谱图像，再通过黑白版校正，将高光谱图像中每一点的光谱响应强度转换成统一的0‑100%的反射率图像，再通过Labview软件对图像的亮度进行提取和着色，将不同的亮度区域区分开，然后在同一颜色区域选取10个不同的点求平均代表整个梨的反射率，结合梨的反射率曲线提取每一波段的反射率信息通过主成分分析PCA提取特征波段，通过国家标准方法测得的梨的硬度的实际值，再用偏最小二乘法PLS算法建立回归模型，得到各种类梨的回归方程，根据回归方程，便可通过测量所测梨的光谱图，计算出所测梨的硬度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学，未经上海理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410630019.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种臭氧检测传感器
- 下一篇：一种基于光学谐振结构的高灵敏度生化传感器
