[发明专利]一种降低叶片型面三坐标测量补偿误差的方法

摘要

本发明公开一种降低叶片型面三坐标测量补偿误差的方法，制作新的测量曲面；二，测量偏差的比对分析；所述制作新的测量曲面的具体步骤为：步骤一：按照设计图纸提供的理论点制作每个截面二维图形；步骤二：利用多个二维截面图形生成三维叶身型面；步骤三：取得每个截面封闭测量点；步骤四：将每个截面的测量点沿法向偏置一个探针半径，取得一个新的测量点的坐标；步骤五：利用新的测量点生成一个新的截面曲线；步骤六：将所有根据新的测量点生成的截面进行连接，生成一个新的测量曲面；本发明的有益效果：可以将叶身型面的余弦测量误差控制在0.005以内，有效解决目前二维型面测量所带来的余弦误差问题，得到端弯部分型面的真实的偏差值。

主权项

一种降低叶片型面三坐标测量补偿误差的方法，其特征在于包括：制作新的测量曲面；二，测量偏差的比对分析；所述制作新的测量曲面的具体步骤为：步骤一：按照设计图纸提供的理论点制作每个截面二维图形；步骤二：利用多个二维截面图形生成三维叶身型面；步骤三：取得每个截面封闭测量点；标注格式为X、Y、Z、I、J、K；步骤四：将每个截面的测量点沿法向偏置一个探针半径，取得一个新的测量点的坐标；步骤五：利用新的测量点生成一个新的截面曲线；步骤六：将所有根据新的测量点生成的截面进行连接，生成一个新的测量曲面；所述测量偏差的比对分析的具体步骤为：步骤一：在测量型线时，关闭测量软件中的测针补偿功能，其效果相当于使用了球头直径为0的尖测针，以水平矢量方向来进行测量；步骤二：将测量所得的实测点进行输出；步骤三：将测量点导入含有测量曲面的CAD文件中，分析每一点距离测量曲面的距离，即取得每个点实测与理论数据的偏差值△L；计算公式为：△L1＝SQR[(X”’‑X”)E2+(Y”’‑Y”)E2+(Z”’‑Z”)E2]，公式中，E2—代表求括号内数值的平方，SQR—代表求括号内非负数值的算术平方根。