[发明专利]无损检测的方法及系统有效
| 申请号： | 201410612843.7 | 申请日： | 2014-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN104613867B | 公开（公告）日： | 2019-12-13 |
| 发明（设计）人： | E·L·帕克特;A·M·萨沃尔 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 11245 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请公开了一种无损检测的方法和系统，其中本申请公开的无损检测方法(100)包括非接触地确定无损检测探头(30)的位置(101)以及识别在测试结构(20)上由探头(30)获取测试数据的的位置。确定可以包括使用一个或多个电子相机捕获探头(30)和测试结构(20)的位置。识别可以包括使所获取的测试数据与探头(30)相对于测试结构(20)的位置关联(104)。此外，方法可以包括可视化(106)与所识别的位置(104)相关的测试数据。本申请公开的无损检测系统(10)包括探头(30)、一个或多个电子相机、计算机(44)以及显示器(42)，其共同被配置为确定探头(30)的位置(101)，通过探头(30)获取测试数据，识别测试结构(20)上与测试数据关联的位置，以及可视化(106)与测试结构(20)相关的测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 无损 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种测试结构(20)的无损检测的方法(100)，所述方法(100)包括：/n确定(101)探头(30)相对于所述测试结构(20)的位置，其中所述确定(101)包括非接触地捕获所述探头(30)的位置以及非接触地捕获所述测试结构(20)的位置；/n使用所述探头(30)获取与所述测试结构(20)相关的测试数据；以及/n通过使所述测试数据与所述探头(30)相对于所述测试结构(20)的位置关联(104)，识别(103)在所述测试结构(20)上获取所述测试数据的位置。/n
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