[发明专利]CAM的测试电路、测试方法和装置

摘要

本发明提供一种CAM的测试电路、测试方法和装置。该测试电路包括：与图形生成器、比较电路和故障扫描链相连接的测试控制模块，用于启动和控制测试进程，在启动向图形生成器发送启动命令；图形生成器，用于在接收到启动命令时产生测试图形并输出至待测电路；比较电路，用于获取待测电路在图形生成器产生的测试图形的控制下，执行相应的操作后输出的匹配结果，并在判断待测电路输出的匹配结果与预存储的理论结果不一致时检测为故障，反馈给测试控制模块；测试控制模块在接收到比较电路的反馈结果为故障时，通过故障扫描链实时捕获故障信息，在不影响测试进程的情况下，将故障信息进行移位输出，从而缩短测试时间，降低测试成本。

主权项

1.一种内容可寻址存储器CAM的测试电路，其特征在于，包括：测试控制模块、图形生成器、比较电路和故障扫描链；所述测试控制模块，与所述图形生成器、比较电路和故障扫描链相连接，用于启动和控制测试进程；在启动时，所述测试控制模块向所述图形生成器发送启动命令；所述图形生成器，与待测电路的输入端相连接，用于在接收到所述测试控制模块发送的所述启动命令时，产生测试图形并输出至所述待测电路，所述待测电路为所述CAM；所述比较电路，与所述待测电路的输出端相连接，用于获取所述待测电路在所述图形生成器产生的测试图形的控制下，执行相应的操作后输出的匹配结果，并判断所述待测电路输出的匹配结果与预存储的理论结果是否一致，若不一致，则检测为故障，反馈给所述测试控制模块；所述故障扫描链，与所述比较电路相连接，包括至少两条扫描链，所述测试控制模块在接收到所述比较电路的反馈结果为故障时，通过所述故障扫描链实时捕获故障信息，并将所述故障信息进行移位输出，所述故障信息包括检测为故障对应的测试图形和所述待测电路输出的匹配结果；其中，所述图形生成器产生的测试图形包括第一初始化图形、第二初始化图形以及搜索测试图形；所述图形生成器将测试图形输入至待测电路，所述待测电路为所述CAM，具体包括：所述图形生成器依次将所述第一初始化图形、所述第二初始化图形以及所述搜索测试图形输入至所述CAM；所述第一初始化图形中包含写启动信号、所述CAM中所有地址的地址标识以及第一初始数据；所述第二初始化图形中包含所述写启动信号、第一地址标识以及第二初始数据，所述第二初始数据为所述第一初始数据取反后的数据；所述搜索测试图形中包含搜索启动信号和所述第一初始数据；所述比较电路获取所述待测电路在所述图形生成器产生的测试图形的控制下，执行相应的操作后输出的匹配结果，具体包括：所述比较电路获取所述CAM分别在所述第一初始化图形和所述第二初始化图形的控制下执行相应的读写操作后输出的匹配结果，以及在所述搜索测试图形的控制下执行相应的搜索操作后输出的匹配结果。