[发明专利]集成电路硬件木马检测方法和系统有效
| 申请号： | 201410598741.4 | 申请日： | 2014-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN104330721A | 公开（公告）日： | 2015-02-04 |
| 发明（设计）人： | 何春华;侯波;王力纬;恩云飞;谢少锋 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种集成电路硬件木马检测方法和系统，对所有待测芯片进行多参数旁路测试获取旁路数据。提取部分待测芯片的旁路数据进行无监督学习聚类分析，得到第一聚类和第二聚类。分别抽取两个聚类中的部分样本进行逆向工程分析，对聚类进行辨识，得到木马芯片聚类和非木马芯片聚类并分别设置标记值。根据木马芯片聚类和非木马芯片聚类中的旁路数据以及对应的标记值进行有监督学习得到神经网络。根据神经网络对未用作无监督学习聚类分析的待测芯片进行木马检测。将先聚类后抽样分析得到的数据用于有监督学习可以提高学习的准确度，从而提高硬件木马特征识别能力。与传统的集成电路硬件木马检测方法相比，提高了检测准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 硬件 木马 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种集成电路硬件木马检测方法，其特征在于，包括以下步骤：对所有待测芯片进行多参数旁路测试，获取所有待测芯片的旁路数据；提取部分待测芯片的旁路数据进行无监督学习聚类分析，得到第一聚类和第二聚类；分别抽取所述第一聚类和第二聚类中的部分样本进行逆向工程分析，对所述第一聚类和第二聚类进行辨识，得到木马芯片聚类和非木马芯片聚类并分别设置标记值；根据所述木马芯片聚类和非木马芯片聚类中的旁路数据以及对应的标记值进行有监督学习，得到训练后的神经网络；根据所述神经网络对未用作无监督学习聚类分析的待测芯片进行木马检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于工业和信息化部电子第五研究所，未经工业和信息化部电子第五研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410598741.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
