[发明专利]基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法在审
申请号: | 201410592610.5 | 申请日: | 2014-10-29 |
公开(公告)号: | CN104331921A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 李东洁;宋鉴;王德宝;张越;尤波;盛宇佳 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G06T17/00 | 分类号: | G06T17/00;G06T7/00;G06K9/46 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张宏威 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法,涉及三维信息提取技术领域。解决了在纳米研究领域,对目标物体的位置及高度进行测量时,通常需要借助第三方设备,但由于存在尺寸效应,容易出现纳米操作困难、测量精度低的问题。基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法包括以下步骤:步骤一、采用OpenCV建立SEM二维图像的目标识别文件;步骤二、使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别,提取物体在SEM二维图像中的二维位置信息;步骤三、获得目标物体的高度。本发明对实时图像的处理速度极快,通过使用单幅二维图像,在不需要添加其他设备的情况下实现三维信息的提取。本发明适用于对三维信息进行提取。 | ||
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【主权项】:
基于单幅SEM二维图像的三维信息快速提取方法,其特征在于,它包括以下步骤:步骤一、采用OpenCV建立SEM二维图像的目标识别文件;步骤二、使用目标识别文件对图像进行兴趣区域快速识别,提取物体在SEM二维图像中的二维位置信息;步骤三、获得目标物体的高度。
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