[发明专利]一种基于Pockels效应的电场强度测量系统在审
| 申请号： | 201410591913.5 | 申请日： | 2014-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN104316777A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 穆海宝;苏国强;宋佰鹏;张冠军;邓军波;廖一帆 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学;南方电网科学研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 蔡和平 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于Pockels效应的电场强度测量系统，包括沿光路依次设置的起偏器、1/4波片、Pockels晶体和检偏器；起偏器与检偏器二者偏振方向正交；还包括光源、光纤以及后处理单元；所述光纤包括入光侧光纤和出光侧光纤；后处理单元包括相互连接的光电探测仪和示波器。本发明提出了一种关于传统光学分立器件难以实用化的解决方案，将测量系统的相关元件(起/检偏器、1/4波片、Pockels晶体、光纤准直器等)胶装后形成Pockels探头。本发明解决了传统的基于分立光学器件不易控制光路且易受到外界条件干扰、系统稳定性差等诸多问题，有助于促进光学电场测量技术向实际应用方向转化，推动电场测量技术的发展。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 pockels 效应 电场 强度 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种基于Pockels效应的电场强度测量系统，其特征在于，包括沿光路依次设置的起偏器(2)、1/4波片(3)、Pockels晶体(4)和检偏器(5)；起偏器(2)与检偏器(5)二者偏振方向正交。
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