[发明专利]基于共存元素强度分析样品中相互干扰元素浓度的方法

摘要

本发明创造提供一种基于共存元素强度分析样品中相互干扰元素浓度的方法，应用于原子发射光谱分析系统中，根据共存元素的相互干扰关系建立模型：其中，n为待分析样品中的元素个数，k_i0表示待分析样品中第i个分析元素的净强度系数，k_ij表示待分析样品中第j个干扰元素对第i个分析元素的干扰系数，C_i表示待分析样品中第i个分析元素的真实浓度，通过模型计算出样品中共存元素的真实浓度。本方法具有元素检测范围宽、准确度高、精密度好，多种相互干扰元素同时测量、分析速度快等特点，将成为可替代专家进行分析的人工智能系统。

主权项

基于共存元素强度分析样品中相互干扰元素浓度的方法，应用于原子发射光谱分析系统中，其特征在于：包括以下步骤：S1.激发端激发待分析样品，激发产生样品中共存元素的光信号；S2.测控端通过光电倍增管将光信号转化为电信号，以获得每个元素的特征谱线强度，然后，测控端采集待分析样品中第i个分析元素的测量强度I_i，并将I_i传送至处理器中；S3.处理器调用存储器中各分析元素的净强度系数k_i0和共存元素的相互干扰系数k_ij，并结合测控端采集的I_i，建立模型一：$\left[\begin{array}{cccccc}{k}_{11}& k_{12}& \·\·\·& k_{1j}& \·\·\·& k_{1n}\\ k_{21}& k_{22}& \·\·\·& k_{2i}& \·\·\·& k_{2n}\\ \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·\\ k_{i1}& k_{i2}& \·\·\·& k_{\mathrm{ij}}& \·\·\·& k_{\mathrm{in}}\\ \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·& \·\·\·\\ k_{n1}& k_{n2}& \·\·\·& k_{\mathrm{nj}}& \·\·\·& k_{\mathrm{nn}}\end{array}\right]*\left[\begin{array}{c}{C}_1*k_{10}\\ C_2*k_{20}\\ \·\·\·\\ C_i*k_{i0}\\ \·\·\·\\ C_n*k_{n0}\end{array}\right]=\left[\begin{array}{c}{I}_1\\ I_2\\ \·\·\·\\ I_i\\ \·\·\·\\ I_n\end{array}\right],$计算获得待分析样品中的元素的真实浓度C_i；其中，n为待分析样品中的元素个数，k_i0表示待分析样品中第i个分析元素的净强度系数，k_ij表示待分析样品中第j个干扰元素对第i个分析元素的干扰系数，C_i表示待分析样品中第i个分析元素的真实浓度。