[发明专利]一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法有效
申请号: | 201410576638.X | 申请日: | 2014-10-24 |
公开(公告)号: | CN104316213A | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 彭翔宇;刘文中;何乐 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01K7/36 | 分类号: | G01K7/36 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法,所述方法包括如下步骤:(1)确定待测对象区域,并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场;(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1;(3)保持交流激励磁场不变,将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内,利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2;(4)计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”;其中的A1,A2,α都由先前检测信号H1,H2求得;(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ,进而求得温度T。通过本发明方法能够实现非侵入式测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 纳米 粒子 交流 磁化率 温度 测量方法 | ||
【主权项】:
一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:(1)确定待测对象区域,并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场;(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1;(3)保持交流激励磁场不变,将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内,利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2;(4)根据下式计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”;![]()
其中的A1,A2,α都由先前检测信号H1,H2求得;(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ,进而求得温度T。
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