[发明专利]一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法有效

专利信息
申请号: 201410576638.X 申请日: 2014-10-24
公开(公告)号: CN104316213A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 彭翔宇;刘文中;何乐 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01K7/36 分类号: G01K7/36
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法,所述方法包括如下步骤:(1)确定待测对象区域,并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场;(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1;(3)保持交流激励磁场不变,将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内,利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2;(4)计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”;其中的A1,A2,α都由先前检测信号H1,H2求得;(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ,进而求得温度T。通过本发明方法能够实现非侵入式测量。
搜索关键词: 一种 基于 纳米 粒子 交流 磁化率 温度 测量方法
【主权项】:
一种基于磁纳米粒子交流磁化率的温度测量方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:(1)确定待测对象区域,并利用通电螺线管对待测区域施加交流激励磁场;(2)利用探测线圈采集交流激励磁场下待测区域的磁感应强度H1;(3)保持交流激励磁场不变,将磁纳米样品放置于待测对象的待测区域内,利用探测线圈采集施加磁纳米样品之后待测区域的磁感应强度H2;(4)根据下式计算磁纳米粒子的交流磁化率χ的实部χ’和虚部χ”;<mfenced open='{' close=''><mtable><mtr><mtd><msqrt><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>+</mo><msup><mi>&chi;</mi><mo>&prime;</mo></msup><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn><mo>+</mo><msup><mi>&chi;</mi><mrow><mo>&prime;</mo><mo>&prime;</mo></mrow></msup><mn>2</mn></msqrt><mo>=</mo><mfrac><mrow><mi>A</mi><mn>2</mn></mrow><mrow><mi>A</mi><mn>1</mn></mrow></mfrac></mtd></mtr><mtr><mtd><mi>&alpha;</mi><mo>=</mo><mi>arctan</mi><mfrac><msup><mi>&chi;</mi><mrow><mo>&prime;</mo><mo>&prime;</mo></mrow></msup><mrow><mn>1</mn><mo>+</mo><msup><mi>&chi;</mi><mo>&prime;</mo></msup></mrow></mfrac></mtd></mtr></mtable></mfenced>其中的A1,A2,α都由先前检测信号H1,H2求得;(5)计算磁纳米粒子的有效弛豫时间τ,进而求得温度T。
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