[发明专利]X射线断层扫描方法和系统有效
申请号: | 201410572852.8 | 申请日: | 2014-10-23 |
公开(公告)号: | CN104323787A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 桂建保;陈垚;郑海荣;张成祥;洪序达 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种X射线断层扫描方法,所述方法包括:通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压,控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描;利用平板探测器接收透过所述被检测对象的X射线,获得多角度的X射线投影图像;采集所述X射线投影图像的数据,并对采集到的数据进行重建得到所述被检测对象的断层图像。采用该方法,既能提高空间分辨率又能提高扫描速度。此外,还提供一种X射线断层扫描系统。 | ||
搜索关键词: | 射线 断层 扫描 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种X射线断层扫描方法,所述方法包括:通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压,控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描;利用平板探测器接收透过所述被检测对象的X射线,获得多角度的X射线投影图像;采集所述X射线投影图像的数据,并对采集到的数据进行重建得到所述被检测对象的断层图像。
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