[发明专利]基于比色法的光纤辐射测温仪

摘要

本发明公开了一种基于比色法的光纤辐射测温仪，属于高温测量领域的。该仪器包括光学系统和电路系统，光学系统由透镜组镜头连接大功率Y型传能光纤组成；电路系统采用信号双通道处理，包括光电探测器、预处理模块、前置放大器、AD采样模块、信号处理模块、显示模块、键盘输入模块及信息交互模块。通过Y型传能光纤将信号分为两路传递到相应的光电探测器上把光信号转成电流信号，经过预处理与前置放大模块转换为电压信号，通过电信号由AD采样，信号处理模块采用曲线拟合算法分析得到的采样信号，通过标定计算出相应的温度值，通过交互模块进一步改进差数设置。本发明的基于比色法的光纤辐射测温仪结构很适用于晶体炉热场的测量。

主权项

基于比色法的光纤辐射测温仪，包括光学系统和电路系统，其特征在于：所述光学系统由透镜组镜头连接大功率Y型传能光纤组成；所述电路系统采用信号双通道处理，包括光电探测器、预处理模块、前置放大器、AD采样模块、信号处理模块、显示模块、键盘输入模块及信息交互模块，其中，所述光电探测器、预处理模块、前置放大器、AD采样模块和信号处理模块依次连接，所述显示模块、按键输入、信息交互模块分别与所述信号处理模块连接；所述Y型传能光纤的输出端分别连接到两个不同的光电探测器的输入端。