[发明专利]一种基于VCE检测的IGBT短路保护自适应优化单元及方法

摘要

本发明公开了一种基于V_CE检测的IGBT短路保护自适应优化单元及方法，包含比较单元、反相单元、触发单元、或单元、下拉单元和最长延时单元。本发明中，当IGBT刚开通时，驱动芯片检测V_CE的引脚DESAT被屏蔽，即短路保护功能此时无效，此后当IGBT管压V_CE低于比较单元预设阈值时，此时DESAT引脚屏蔽将取消，开始检测IGBT的C-E端电压，从而判断IGBT是否发生短路故障。本发明能够自动判断驱动芯片何时开始检测管压V_CE，即自动判断何时开始短路故障检测，避免因不同类型IGBT模块及不同工况下存在的差异性所带来的影响。

主权项

一种基于V_CE检测的IGBT短路保护自适应优化单元，其特征在于包含比较单元（1）、反相单元（2）、触发单元（3）、或单元（4）、下拉单元（5）和最长延时单元（6）：比较单元(1)，其第一输入端（1‑1）连接于功率半导体开关IGBT的集电极C端，用于检测功率半导体开关IGBT的集电极端电压信号V_CE，其第二输入端(1‑2)接一预设电压阈值V_REF，其输出端(1‑3)连接至触发单元(3)的第一输入端(3‑1)；反相单元(2)，其输入端(2‑1)连接至IGBT驱动芯片单元(101)的VOUT引脚输出的一驱动信号V_OUT，对其进行反相处理，将反相信号通过输出端(2‑2)输出至触发单元(3)的第二输入端(3‑2)；触发单元(3)，其第一输入端(3‑1)连接至所述比较单元(1)的输出端(1‑2)，第二输入端(3‑2)连接至所述反相单元(2)的输出端(2‑2)，输出端(3‑3)连接至或单元(4)的第一输入端(4‑1)；或单元（4），其第一输入端（4‑1）连接至触发单元（3）的输出端（3‑3），第二输入端（4‑2）连接至最长延时单元（6）的输出端（6‑2），输出端（4‑3）连接至下拉单元（5）的输入端（5‑1）；下拉单元（5），其输入端（5‑1）连接至所述或单元（4）的输出端（4‑3），输出端（5‑2）连接至IGBT驱动芯片单元（101）的短路保护检测引脚DESAT；最长延时单元（6），输入端（6‑1）连接至IGBT驱动芯片单元（101）的VOUT引脚输出的一驱动信号V_OUT，输出端（6‑2）连接至所述或单元（4）的第二输入端（4‑2）。