[发明专利]对222Rn、220Rn子体ɑ衰变探测效率的刻度方法

摘要

一种对²²²Rn、²²⁰Rn的子体ɑ衰变探测效率的刻度方法，它是对三个固体核径迹探测器表面分别加不同厚度阻挡膜后对²²²Rn、²²⁰Rn的不同子体ɑ衰变探测效率进行刻度，对于²²²Rn子体，固体核径迹探测器主要测量²¹⁸Po、²¹⁴Po衰变产生的能量分别为6MeV及7.69MeV的ɑ粒子；对于²²⁰Rn子体，固体核径迹探测器主要测量²¹²Bi、²¹²Po衰变产生的能量分别为6.05MeV及8.78MeV的ɑ粒子。利用本发明提供的方法对²²²Rn、²²⁰Rn的不同子体ɑ衰变探测效率进行刻度，整个测量过程及计算方法简单，能够快速获得²²²Rn、²²⁰Rn的子体ɑ衰变探测效率。

主权项

一种对²²²Rn、²²⁰Rn的子体ɑ衰变探测效率的刻度方法，其特征是：它是利用采样装置及第一滤膜、第二滤膜、第三滤膜、第四滤膜、第五滤膜和第六滤膜分别对²²⁰Rn或²²²Rn室中的空气采样，采样时，第一滤膜、第二滤膜、第三滤膜、第四滤膜、第五滤膜和第六滤膜分别设置在过滤器内，启动采样泵，对²²⁰Rn或²²²Rn室中的空气采样，采样过程中，空气中的²²⁰Rn、²²²Rn子体沉积到第一滤膜、第二滤膜、第三滤膜、第四滤膜、第五滤膜和第六滤膜的表面；采样结束后，将每片滤膜一分为二，分为第一半边滤膜和第二半边滤膜，第一半边滤膜利用ɑ能谱仪测量衰变计数，第二半边滤膜分别利用三个固体核径迹探测器表面加阻挡膜后进行照射，照射结束后对固体核径迹探测器进行化学蚀刻并读取径迹数，再对²²²Rn、²²⁰Rn的子体ɑ衰变探测效率进行刻度,²²²Rn、²²⁰Rn的子体ɑ衰变探测效率分别为、、、、、及；对于²²²Rn子体，固体核径迹探测器主要测量²¹⁸Po、²¹⁴Po 衰变产生的能量分别为6MeV及7.69 MeV的ɑ粒子，对于²²⁰Rn子体，固体核径迹探测器主要测量²¹²Bi、²¹²Po衰变产生的能量分别为6.05MeV及8.78 MeV的ɑ粒子；三个固体核径迹探测器分别为第一固体核径迹探测器、第二固体核径迹探测器和第三固体核径迹探测器，第一固体核径迹探测器的表面积为S₁，第二固体核径迹探测器的表面积为 S₂，第三固体核径迹探测器的表面积为S₃；阻挡膜分别为第一阻挡膜、第二阻挡膜和第三阻挡膜，第一阻挡膜的厚度为d₁，第一阻挡膜不能阻挡²²²Rn、²²⁰Rn子体衰变产生的ɑ粒子打到第一固体核径迹探测器的表面，第二阻挡膜的厚度为d₂，第二阻挡膜能阻挡能量为6.05MeV的ɑ粒子打到第二固体核径迹探测器的表面，第三阻挡膜的厚度为d₃，第三阻挡膜能阻挡能量为7.69MeV的ɑ粒子打到第三固体核径迹探测器的表面；所述的采样装置包括过滤器及采样泵，过滤器的一端通过管道与²²⁰Rn或²²²Rn室的出气口连接，过滤器的另一端通过管道与采样泵连接，采样泵的另一端通过管道与²²⁰Rn或²²²Rn室的进气口连接。