[发明专利]能够抑制Cu离子迁移的热电材料以及抑制Cu基热电材料中Cu离子迁移的方法有效
申请号: | 201410520197.1 | 申请日: | 2014-09-30 |
公开(公告)号: | CN104310457A | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 仇鹏飞;史迅;陈立东;张天松 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C01G3/12 | 分类号: | C01G3/12;C01G49/12;C01B19/00 |
代理公司: | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人: | 曹芳玲;郑优丽 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种能够抑制Cu离子迁移的热电材料以及抑制Cu基热电材料中Cu离子迁移的方法,所述热电材料的化学组成为Cu2-m-nTnX,其中,X为S或Se,T为大电流作用下不可移动的过渡金属元素,0≦m≦1,0<n≦0.5。 | ||
搜索关键词: | 能够 抑制 cu 离子 迁移 热电 材料 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种Cu基热电材料,其特征在于,所述热电材料的化学组成为Cu2‑m‑nTnX,其中,X为S或Se,T为大电流作用下不可移动的过渡金属元素,0≦m≦1,0<n≦0.5。
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