[发明专利]一种测试内存功耗的方法在审
| 申请号： | 201410502157.4 | 申请日： | 2014-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN104317683A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 刘胜 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 姜明 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试内存功耗的方法，用内存升高卡将内存串联一个电阻，将通过内存条的电流通过电阻上量测出来，然后与内存的VDD电压进行乘积，来准确的计算内存的功耗；同时，结合系统下的内存压力程序，计算出不同的状态下功耗的数值。该测试内存功耗的方法，比以往内存功耗的测试方法精确很多，能够测试内存在不同状态下的功耗数值，能够横向对比各家内存的功耗情况便于客户选择内存，操作简单易行，具有较好的实用性和推广使用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 内存 功耗 方法 | ||
【主权项】：
一种测试内存功耗的方法，其特征在于，提出了一种由内存、内存升高卡和电阻组成的内存功耗测试装置, 用内存升高卡将从内存插槽上单独接出来，同时内存串联所述电阻，将通过内存条的电流通过电阻上量测出来，然后与内存的VDD电压进行乘积，准确测量出内存的功耗。
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