[发明专利]基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量方法及系统有效
| 申请号： | 201410455839.4 | 申请日： | 2014-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN104199116B | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 冯金扬 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01V7/14 | 分类号： | G01V7/14 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司11003 | 代理人： | 尹振启 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量系统，设置有上下对称的干涉仪，所述干涉仪包括固定棱镜、活动棱镜和分光镜，通过相同频率的激光光源照射所述干涉仪分别发生干涉；上、下活动棱镜设置在同一个落体内，上、下活动棱镜的光心相距预定距离，在垂直方向上落体质心位于两个所述光心中间。本系统能够消除落体偏摆对自由落体绝对重力测量精度的影响。本发明同时还提供了一种基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 干涉仪 自由落体 绝对 重力 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
基于双干涉仪的自由落体绝对重力测量系统，设置有上下对称的干涉仪，所述干涉仪包括固定棱镜、活动棱镜和分光镜，通过相同频率的激光光源照射所述干涉仪分别发生干涉；上、下活动棱镜设置在同一个落体内，上、下活动棱镜的光心相距预定距离，在垂直方向上落体质心位于两个所述光心中间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院，未经中国计量科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410455839.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
