[发明专利]一种微管和光镊测控系统

摘要

本发明公开了一种微管和光镊测控系统，属于激光技术领域。所述微管和光镊测控系统包括样品池，所述微颗粒物在所述样品池内动作；样品动作装置，所述样品动作装置与所述样品池连接；第一光阱装置，所述第一光阱装置用于捕获控制所述样品池内的微颗粒物；所述第一光阱装置包括第一激光机构、第一监测机构及第一显微机构；第二光阱装置，所述第二光阱装置与所述第一光阱装置相对称；成像装置，所述成像装置拍摄所述样品池内的图像；中央处理器，所述中央处理器与所述监测装置连接，用于实时监测激光的位置及强度。本发明微管和光镊测控系统采用对称的双光阱系统，空间分辨率、时间分辨率及测力精度高。

主权项

一种微管和光镊测控系统，用于操控与监测实验溶液内的微颗粒物；其特征在于，所述测控系统包括：样品池(10)，所述微颗粒物在所述样品池(10)内；样品动作装置，所述样品动作装置与所述样品池(10)连接，所述样品动作装置带动所述样品池(10)动作，用于控制所述样品池(10)在三维方向的移动；第一光阱装置，所述第一光阱装置用于捕获控制所述样品池(10)内的微颗粒物；其中，所述第一光阱装置包括：第一激光机构，所述第一激光机构发射的激光通过所述显微机构照射到所述样品池(10)，用于捕捉所述样品池(10)内的微颗粒物；第一监测机构，所述第一监测机构接收所述第一激光机构发射的激光，用于测量激光的精确位置及强度；第一显微机构，所述激光通过所述第一显微机构照射在所述微颗粒物上，在所述微颗粒物的折射下形成光阱，用于控制所述微颗粒物；第二光阱装置，所述第二光阱装置与所述第一光阱装置相对称，所述第二光阱装置与第一光阱装置反向叠加，一起捕获控制所述样品池内的微颗粒物；其中，第二光阱装置包括：第二激光机构，所述第二激光机构发射的激光照射到所述样品池(10)，用于捕捉所述样品池(10)内的微颗粒物；第二监测机构，所述第二监测机构接收所述第二激光机构发射的激光，用于测量激光的精确位置及强度；第二显微机构，所述激光通过所述第二显微机构照射在所述微颗粒物上，在所述微颗粒物的折射下形成光阱，用于控制所述微颗粒物；成像装置，所述成像装置拍摄所述样品池(10)内的图像，用于观察光阱及微颗粒物；中央处理器，所述中央处理器与所述监测装置连接，用于实时监测激光的位置及强度；所述中央处理器与所述成像装置连接，用于接收所述成像装置拍摄的图像；所述中央处理器与所述样品动作装置连接，用于控制所述样品动作装置动作；所述中央处理器与所述第一光阱装置及第二光阱装置连接，控制所述第一光阱装置及第二光阱装置动作。