[发明专利]FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法

摘要

本发明涉及一种FPGA单粒子效应动态故障测试装置，包括控制电路模块(11)、上位机控制模块(12)、可控脉冲激光模块(15)以及三维移动模块(16)；其中，三维移动模块(16)在测试时用于安装待测试的被测FPGA器件(13)；上位机控制模块(12)与控制电路模块(11)连接，控制电路模块(11)连接到可控脉冲激光模块(15)，在测试时，控制电路模块(11)还分别连接到被测FPGA器件(13)以及与被测FPGA器件(13)所对应的对照FPGA器件(14)。

主权项

一种FPGA单粒子效应动态故障测试装置，其特征在于，包括：控制电路模块(11)、上位机控制模块(12)、可控脉冲激光模块(15)以及三维移动模块(16)；其中，所述三维移动模块(16)在测试时用于安装待测试的被测FPGA器件(13)；所述上位机控制模块(12)与所述控制电路模块(11)连接，所述控制电路模块(11)连接到所述可控脉冲激光模块(15)，在测试时，所述控制电路模块(11)还分别连接到所述被测FPGA器件(13)以及与所述被测FPGA器件(13)所对应的对照FPGA器件(14)；其中，所述控制电路模块(11)进一步包括：主控器件(21)、第一配置数据存储器(22)、第二配置数据存储器(23)，接口芯片(24)、晶振(25)和应用接口(26)；其中，所述的第一配置数据存储器(22)用于存储所述的主控器件(21)的配置数据；所述的第二配置数据存储器(23)用于存储被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)的配置数据；所述的接口芯片(24)用于实现所述的主控器件(21)和所述的上位机控制模块(12)之间的通信，包括接收所述上位机控制模块(12)发出的指令和向上位机控制模块(12)传输测试数据；所述的晶振(25)用于提供整个装置的工作时钟；所述的应用接口(26)一方面用于传输可控脉冲激光模块(15)的触发信号，一方面用于与被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)的信号传输；所述的主控器件(21)用于根据上位机控制模块(13)的指令控制整个装置的运行，实现对被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)的数据读写，对获得数据的比对、分析、上传，以及对可控脉冲激光模块(15)的触发控制；所述主控器件(21)进一步包括：上位机通信单元、时钟分频单元、脉冲激光触发单元、配置数据处理单元、功能数据处理单元和复位单元；其中，上位机通信单元用于实现所述的主控器件(21)和所述的上位机控制模块(12)之间的通信，包括解析上位机指令和对打包好的数据按串口协议上传到上位机；时钟分频单元用于将晶振输出的时钟信号分频到合适的频率，分别作为其他各个功能单元的时钟输入；脉冲激光触发单元用于在合适的时间触发脉冲激光；复位单元用于控制其它各个功能单元的复位；配置数据处理单元用于处理被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)的配置存储数据，包括配置、回读、刷新和比对分析；功能数据处理单元用于处理被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)的功能数据，包括同步输出数据到被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)，同步接收被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)的数据并实时比对分析，判断被测FPGA器件(13)和对照FPGA器件(14)的输出数据异同。