[发明专利]一种oLED显示器的像素的测量方法

摘要

本发明公开一种oLED显示器的测量方法，所述测量方法包括如下步骤：a)将oLED显示器的像素进行分组；b)同一组中的像素可以进一步细分为子像素；c)测量oLED显示器的同一组中的子像素的发光信息；d)对oLED显示器的所有分组的子像素进行分组测量后，将所有分组的子像素的发光信息合并在一起，完成oLED显示器的像素的测量。采用所述方法测量方法测试效率高，不仅可以应用于研制阶段对样品的测试，也适用于生产阶段对显示设备的大批量测试；还可以用分辨率不高的图像采集设备完成对高分辨率显示设备的精确测试，同时不需要移动设备。

主权项

一种oLED显示器的像素的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括如下步骤：将oLED显示器的像素进行分组，将所述oLED显示器的N1个像素划分成N2个组，所述组中由M1个像素构成，，其中，N1≥1，M1≥1，N2≥1，N1是所述oLED显示器的像素总数目，各个分组的像素个数M1可以不同；同一组中的像素满足如下要求：同一个组中M1个像素同时发光时，同一组中的发光像素之间不受干扰，所述像素之间不受干扰是指：同一组中的像素映射到测量oLED显示器的图像采集设备的感光单元之间保持相互不受干扰的距离；OLED像素分组可以进一步细分为子像素分组，每个像素分组都分解为K个子像素的分组；K为构成该像素的子像素个数； 测量OLED显示器的同一组中的子像素的发光信息，OLED显示器中分在同一组中的子像素输入相同的参数使其发光，图像采集设备采集此时OLED显示器的同一组中子像素的发光信息；OLED显示器的所有分组的子像素进行测量后，将所有分组的子像素的发光信息合并在一起，完成OLED显示器所有的子像素发光信息的测量。