[发明专利]光纤性能测试方法、装置和系统

摘要

本发明实施例提供一种光纤性能测试方法、装置和系统。本发明实施例涉及光通信技术领域，用以解决对光纤进行性能测试时的效率问题。方法包括从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；接收测试光信号经过设置在测试末端的反射器的反射，反射回测试始端的反射光信号；根据测试光信号在测试始端的功率和反射光信号在测试始端的功率，计算光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；根据光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定光纤的性能。本发明实施例提供的光纤性能测试方法、装置和系统，可以应用于对光纤性能测试效率要求较高的测试设备。

主权项

一种光纤性能测试方法，其特征在于，包括：从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；接收所述测试光信号经过设置在所述测试末端的反射器的反射，反射回所述测试始端的反射光信号；根据所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率，计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；根据所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定所述光纤的性能；其中，在所述计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗之前，利用增设了光衰减器和光开关的光时域反射仪，测试所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率；所述光时域反射仪包括激光器、环形器、耦合器、光衰减器、光开关、雪崩二极管、处理单元和连接器，所述光时域反射仪通过所述连接器与所述光纤的测试始端连接；由所述激光器发出的测试光信号经过所述环形器、所述耦合器后，一路由所述连接器进入所述光纤，另一路依次经过所述光衰减器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；所述测试光信号在所述测试始端的功率Power_T为:Power_T＝value1+loss_cp1‑loss_cp2+loss_os1+loss_atn其中，value1为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp1为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述光衰减器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_cp2为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述连接器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_os1为所述测试光信号经过所述光衰减器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述测试光信号的功率损耗；loss_atn为所述测试光信号经过所述耦合器、所述光衰减器进入所述光开关时，所述光衰减器对所述测试光信号的功率损耗。