[发明专利]一种提高同测数的新型测试开发方法在审
| 申请号： | 201410390798.5 | 申请日： | 2014-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN104133172A | 公开（公告）日： | 2014-11-05 |
| 发明（设计）人： | 李强;蔡恩静;王继华;高金德 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 王宏婧 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种提高同测数的新型测试开发方法，包括：第一步骤，用于接收测试需求；第二步骤，用于评估测试需求以便针对芯片的管脚对测试需求进行分组归类；第三步骤，用于评估分组归类后的管脚能否共享测试通道；其中，在第三步骤中判断分组归类后的管脚不能共享测试通道的情况下，返回第二步骤；在第三步骤中判断分组归类后的管脚能共享测试通道的情况下执行第四步骤；第四步骤，用于确认同测数。第五步骤，用于探针卡设计和制作；第六步骤，用于测试程序开发；第七步骤，用于测试程序调试；第八步骤，用于晶圆测试。在测试机资源不变的情况下，采用本发明的测试开发方法，可以在保证测试质量下，大幅度提升同测数，减小总测试时间，提升测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 新型 测试 开发 方法 | ||
【主权项】：
一种提高同测数的新型测试开发方法，其特征在于包括：第一步骤，用于接收测试需求；第二步骤，用于评估测试需求以便针对芯片的管脚对测试需求进行分组归类；第三步骤，用于评估分组归类后的管脚能否共享测试通道；其中，在第三步骤中判断分组归类后的管脚不能共享测试通道的情况下，返回第二步骤；在第三步骤中判断分组归类后的管脚能共享测试通道的情况下执行第四步骤；第四步骤，用于确认同测数。
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