[发明专利]基于双能谱的X射线CT图像增强方法在审

专利信息
申请号: 201410375079.6 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN104156917A 公开(公告)日: 2014-11-19
发明(设计)人: 邹晶;胡晓东;须颖;陈津平;胡小唐 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;A61B6/03
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 刘国威
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及CT技术领域,为实现两幅图像进行图像融合增强,弥补单幅图像的缺陷。为此,本发明采取的技术方案是,基于双能谱的X射线CT图像增强方法,包括如下步骤:扫描获取多组暗场图像,并计算所述暗场的平均值;将样品移出视场,分别获取高、低电压下的N组亮场图像;计算高、低电压下的投影图像;基于灰度统一的原则,将高电压、低电压下的投影数据统一到一个尺度;对N组同一位置处校准后的高、低能投影图像进行小波分解,并通过小波变换的方法进行图像融合;利用融合后的投影图像进行CT重建。本发明主要应用于CT设备设计和制造。
搜索关键词: 基于 双能谱 射线 ct 图像 增强 方法
【主权项】:
一种基于双能谱的X射线CT图像增强方法,其特征是,包括如下步骤:扫描获取多组暗场图像,并计算所述暗场的平均值;将扫描对象置于检测台上,设置扫描条件和最大扫描角度数;在同一位置处,分别在不同电压参数下,即高、低电压下各采集一组透视图像;将转台旋转预设的角度,继续重复上一步骤过程,直至次数达到最大扫描次数;将样品移出视场,分别获取高、低电压下的N组亮场图像,并计算所述高、低电压下的亮场平均值;对高、低电压下的亮场数据进行失效像素标记;对高电压下获取的透视图像和高电压下的亮场图像中的无效像素进行标记,并利用插值方法对无效像素进行修正;对低电压下获取的透视图像和低电压下的亮场图像中的无效像素进行标记,并利用插值方法对无效像素进行修正;计算高、低电压下的投影图像;基于灰度统一的原则,将高电压、低电压下的投影数据统一到一个尺度;对N组同一位置处校准后的高、低能投影图像进行小波分解,并通过小波变换的方法进行图像融合;利用融合后的投影图像进行CT重建。
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