[发明专利]源光栅、干涉计和被检体信息获取系统无效
| 申请号： | 201410337362.X | 申请日： | 2014-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN104287755A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 佐藤玄太 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 宋岩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开了源光栅、干涉计和被检体信息获取系统。源光栅包括：第一副源光栅，其中透过X射线的第一透过部和屏蔽X射线的第一屏蔽部在第一方向上交替排列；以及第二副源光栅，其中透过X射线的第二透过部和屏蔽X射线的第二屏蔽部在与第一方向正交的第二方向上交替排列。第一副源光栅是弯曲的，使得该弯曲上的两个位置在第一方向上对齐。第二副源光栅是弯曲的，使得该弯曲上的两个位置在第二方向上对齐。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅 干涉 被检体 信息 获取 系统 | ||
【主权项】：
一种源光栅，包括：第一副源光栅，其中透过X射线的第一透过部和屏蔽X射线的第一屏蔽部在第一方向上交替排列；以及第二副源光栅，其中透过X射线的第二透过部和屏蔽X射线的第二屏蔽部在与第一方向基本上正交的第二方向上交替排列；其中，第一副源光栅被形成为弯曲物，沿着该弯曲物的两个位置在第一方向上对齐；并且其中，第二副源光栅具有在第二方向上弯曲的形状。
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