[发明专利]一种磁控溅射法制备Bi2Se3薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201410329154.5 申请日: 2014-07-11
公开(公告)号: CN104152856B 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 羊新胜;魏占涛;张敏;赵勇;闫勇 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/58;C23C14/06
代理公司: 成都博通专利事务所51208 代理人: 陈树明
地址: 610031 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种磁控溅射法制备Bi2Se3薄膜的方法,其步骤主要是a、清洗基片;b、溅射准备将硅基片干燥后放在衬底上,在溅射靶上安装纯度为99.99%的Bi2Se3靶材;c、溅射Bi2Se3薄膜将溅射室抽真空至气压小于2×10‑4Pa,再通入99.995%的氩气,使溅射室气压为0.4‑0.6Pa,衬底温度为360℃,进行功率为4‑6W/cm2的60‑600秒的溅射沉积;d、后退火处理将沉积后的硅基片和硒粒封入气压小于1×10‑2Pa的真空石英管中,置于管式炉中进行氩气保护气氛下,250℃‑300℃、2‑3小时的后退火处理,即得。该方法的真空条件要求低、制备时间短、成本低。
搜索关键词: 一种 磁控溅射 法制 bi sub se 薄膜 方法
【主权项】:
一种磁控溅射法制备Bi2Se3薄膜的方法,其步骤是:a、清洗基片:将硅基片依次在丙酮、乙醇、去离子水中进行10‑20分钟的超声清洗;b、溅射准备:将硅基片用热氮气干燥后放在磁控溅射设备的衬底上,在磁控溅射设备的溅射靶上安装纯度为99.99%的Bi2Se3靶材,调整溅射靶到硅基片的距离为5‑7厘米;c、溅射Bi2Se3薄膜:将溅射室抽真空至气压小于2×10‑4Pa,再通入纯度为99.995%的氩气,使溅射室气压为0.4‑0.6Pa,调整衬底温度为360℃,进行溅射功率为4‑6W/cm2、时间为60‑600秒的溅射沉积;d、后退火处理:将c步所得的沉积有Bi2Se3薄膜的硅基片和0.1‑0.5g的硒粒一起封入气压小于1×10‑2Pa的真空石英管中,置于管式炉中进行氩气保护气氛下的后退火处理,后退火处理时的参数为:以2℃/min升至250℃‑300℃,再保温2‑3小时;然后炉冷,即得。
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