[发明专利]一种测定薄膜材料屈服行为的装置及其测定方法有效

专利信息
申请号: 201410320627.5 申请日: 2014-07-07
公开(公告)号: CN104181231B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 丁向东;王霄飞;周玉美;苏杰;孙军 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01H11/08
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 *** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种测定薄膜材料屈服行为的装置及其测定方法,属于材料科学技术领域,包括下基板和沉积于下基板上表面的待测薄膜,在待测薄膜的一侧设有压电传感器,压电传感器由沉积在待测薄膜一侧侧壁上的压电材料层及沉积在压电传感材料层上、下表面的铂电极层组成;所述下基板的长度大于待测薄膜的长度。本发明装置结构简单、紧凑,使用方便,本发明方法能够直接采集原始的信号,避免了使用波导,从而利于后续分析,且测试工艺简单易行。
搜索关键词: 一种 测定 薄膜 材料 屈服 行为 装置 及其 方法
【主权项】:
一种在线被动检测薄膜材料屈服行为的方法,其特征在于,包括以下步骤:1)在底部设有基板的待测薄膜的一侧侧壁上沉积金属铂作为一侧电极,然后在该金属铂上沉积压电材料层,最后在压电材料层的上表面沉积另一层金属铂作为另一侧电极,压电材料层和压电材料层上、下表面的金属铂层形成压电传感器,然后通过导线将金属铂层与外接的信号分析装置相连;其中,基板的长度大于待测薄膜的长度,且压电传感器位于基板长出待测薄膜的一侧;2)当待测薄膜在使役过程中受到环境外力作用时,压电传感器检测待测薄膜内部形成畴结构时所产生的声发射信号,根据该声发射信号判断得到待测薄膜的屈服点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410320627.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top