[发明专利]一种ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法有效

专利信息
申请号: 201410316869.7 申请日: 2014-07-04
公开(公告)号: CN104048951A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 陈涛;陶俊;赵绥;岳金玲 申请(专利权)人: 武钢集团昆明钢铁股份有限公司
主分类号: G01N21/73 分类号: G01N21/73
代理公司: 昆明知道专利事务所(特殊普通合伙企业) 53116 代理人: 姜开侠
地址: 650300 云南省*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明涉及一种ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法,待测试样加入浓盐酸和浓硝酸,低温溶解后,定容在100mL容量瓶中,摇匀待测。用配制好的硅、钙、铝标准溶液在等离子体原子发射光谱仪上做出硅、钙、铝谱线强度-质量分数工作曲线,用该曲线分析待测试样,得到永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量。本发明使用的分析方法使用的化学试剂较少,对环境污染小,分析成本低,可以多元素同时测定,操作方便,分析速度快,缩短了分析周期,提高了分析效率,减轻了分析操作人员的劳动强度,测定结果有良好的稳定性、重现性和准确性、可靠、实用,能满足日常永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定需要。
搜索关键词: 一种 icp 发射光谱 测定 永磁 铁氧体 添加剂 溶剂 含量 方法
【主权项】:
一种ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法,其特征在于:包括试样处理、标准储备溶液的配制、标液的配制、测试对比分析四个步骤,其工序步骤如下:A、试样处理(1)、在待测试样中加入15ml浓盐酸,低温75~85℃加热20min溶解;(2)、在步骤(1)的所得溶液中加入8ml浓硝酸,以100℃加热至待测试样溶解完全,冷却至温度20~30℃;(3)、把步骤(2)的溶液用蒸馏水定容,摇匀;B、标准储备溶液的配制(1)、按质量比0.027的比例称取二氧化硅和无水碳酸钠,用3/4无水碳酸钠铺放于铂坩埚内,放入二氧化硅,再在表面覆盖剩余1/4无水碳酸钠,将坩埚先进行预热,再置于950℃高温处加热20min,取出冷却,用盛有冷水的塑料烧杯浸出熔块至完全溶解,取出坩埚,仔细洗净,冷却至20~30℃,移入容量瓶中,用水稀释,混匀,贮存于塑料瓶中,得到硅元素的标准储备溶液;(2)、按质量浓度24.97g/L取一级碳酸钙和盐酸(19%),将一级碳酸钠置于烧杯中,用盐酸溶解,移入容量瓶中,用水稀释,混匀,得到钙元素浓度与(1)中硅元素浓度相同的标准储备溶液;(3)、按质量浓度3.33g/L取金属铝和氢氧化钠(20%),将金属铝置于烧杯中,加氢氧化钠溶液,在水浴80℃上加热溶解,加水100ml,滴加盐酸(19%)至pH值为2~3,冷却至20~30℃,移入容量瓶中,用水稀释,混匀,得到铝元素浓度与(1)中硅元素浓度相同的标准储备溶液;C、标液的配制(1)、在6个100mL容量瓶中分别加入15mL浓盐酸,8mL浓硝酸低温溶解至体积为2mL,取下冷却,加入10mL蒸馏水;(2)、在步骤(1)所得的6份溶液中,分别加入0mL,0.50mL,1.00mL,3.00mL,6.00mL,10.00mL步骤B中的(1)、(2)、(3)标准储备溶液,加入蒸馏水定容摇匀,得到标液;D、测试对比分析用配制好的含硅、钙、铝三种元素的标液在等离子体原子发射光谱仪上做出硅、钙、铝谱线强度‑质量分数工作曲线,用该曲线分析待测试样,得到永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量。
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