[发明专利]基于契伦科夫效应的内窥平面成像系统和方法有效

专利信息
申请号: 201410302205.5 申请日: 2014-06-27
公开(公告)号: CN104027064A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 胡振华;田捷;宋天明;王坤 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: A61B1/05 分类号: A61B1/05;A61B5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于契伦科夫效应的内窥式平面成像系统和方法,所述系统包括:支撑装置,用于支撑待成像对象;契伦科夫荧光探测装置,用于采集待成像对象的平面光学图像和契伦科夫荧光图像;暗箱,用于容纳契伦科夫荧光探测装置和支撑装置,以阻断高能射线和可见光;计算机,用于对于契伦科夫荧光探测装置中的光学成像器件的光学成像参数进行调节,并对于接收到的光学图像和契伦科夫荧光图像进行融合,得到契伦科夫配准图像。本发明可以有效地解决契伦科夫光信号较弱,穿透深度较浅等缺点,且大幅降低了设备建造与维护成本,降低了核医学成像研究的门槛,拓展了光学分子影像探针可供选择的空间,延伸了光学分子影像研究与应用的范围。
搜索关键词: 基于 契伦科夫 效应 平面 成像 系统 方法
【主权项】:
一种基于契伦科夫效应的内窥式平面成像系统,其特征在于,该系统包括:契伦科夫荧光探测装置、支撑装置、计算机和暗箱,其中:所述支撑装置用于支撑待成像对象;所述契伦科夫荧光探测装置用于采集待成像对象的平面光学图像和契伦科夫荧光图像;所述暗箱为一不透光封闭式容器,用于容纳所述契伦科夫荧光探测装置和支撑装置,以阻断高能射线和可见光;所述计算机用于对于所述契伦科夫荧光探测装置中的光学成像器件的光学成像参数进行调节,并对于接收到的光学图像和契伦科夫荧光图像进行融合,得到契伦科夫配准图像。
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