[发明专利]3D式PIN结构α辐照电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201410299932.0 申请日: 2014-06-29
公开(公告)号: CN104051043B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 郭辉;赵亚秋;王悦湖;宋庆文;张玉明 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 陕西电子工业专利中心61205 代理人: 王品华,朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种3D式PIN结构α辐照电池及其制备方法,主要解决当前α辐照电池能量转化率及输出功率低的问题。其实现步骤是在清洗后的4H‑SiC衬底上依次外延生长N型低掺杂4H‑SiC外延层和P型高掺杂4H‑SiC外延层;再在P型高掺杂外延层上和SiC衬底未外延背面淀积欧姆接触电极;然后在P型欧姆接触电极上光刻出沟槽窗口,并刻蚀沟槽;最后在沟槽中放置α放射源,得到3D式PIN结构α辐照电池。本发明制作出的α辐照电池具有α放射源与半导体接触面积大,核原料利用率及能量收集率高,电池输出电流和输出电压大的优点,可为微小电路持久供电,或在需长期供电但无人看守的场合下供电。
搜索关键词: pin 结构 辐照 电池 及其 制备 方法
【主权项】:
一种3D式PIN结构α辐照电池的制备方法,包括以下步骤:1)清洗:对SiC样片进行清洗,以去除表面污染物;2)生长N型低掺杂外延层:利用化学气相淀积CVD法在清洗后的SiC样片表面外延生长一层掺杂浓度为1x1015~2x1015cm‑3,厚度为5~10μm的N型低掺杂外延层;3)生长P型高掺杂外延层:利用化学气相淀积CVD法在N型低掺杂外延层表面外延生长一层掺杂浓度为1x1019~5x1019cm‑3,厚度为1~2μm的P型高掺杂外延层;4)淀积欧姆接触电极:在P型高掺杂外延层表面利用电子束蒸发法淀积一层厚度为300nm的Ni金属层,作为刻蚀沟槽的掩膜和P型欧姆接触金属;利用电子束蒸发法在SiC衬底未外延的背面淀积厚度为300nm的Ni金属层,作为N型欧姆接触电极;1100℃下氮气气氛中快速退火3分钟;5)光刻图形:按照核电池沟槽的位置制作成光刻版;在淀积的Ni金属层表面旋涂一层光刻胶,利用光刻版对光刻胶进行电子束曝光,形成腐蚀窗口;对腐蚀窗口处的Ni金属层进行腐蚀,露出P型高掺杂外延层,得到P型欧姆接触电极和沟槽腐蚀窗口;6)刻蚀沟槽:利用电感耦合等离子体ICP刻蚀技术,刻出用于放置α放射源,深度为6.5~12μm,宽度为5~14μm,间距为12~25μm的至少两个沟槽;7)放置α放射源:采用淀积或涂抹的方法,在沟槽中放置α放射源,得到3D式PIN结构α辐照电池。
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