[发明专利]一种光学材料与激光相互作用过程的实时监测装置及方法无效
申请号: | 201410295880.X | 申请日: | 2014-06-27 |
公开(公告)号: | CN104048915A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 陈坚;吴令奇;吴周令 | 申请(专利权)人: | 无锡利弗莫尔仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/00 | 分类号: | G01N21/00 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所 34115 | 代理人: | 金凯 |
地址: | 214135 江苏省无锡市无锡新区太湖国*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种光学材料与激光相互作用过程的实时监测装置,包括分别与光学材料光路连接的辐照激光光源、探测光源、光电探测器、散射光探测器和荧光探测器;探测光源与光学材料之间设有探测光第一聚焦装置;光学材料与光电探测器之间依次设有探测光第二聚焦装置、探测光滤光装置和空间滤波器;光学材料与散射光探测器之间依次设有散射光收集装置和散射光滤光装置;光学材料与荧光探测器之间依次设有荧光收集装置和荧光滤光装置。本发明还提供一种光学材料与激光相互作用过程的实时监测方法。本发明有助于及时掌握光学材料所处的状态,可以预知光学材料在激光的持续辐照下是否会发生损伤,减少不必要的损失,大大节约激光系统的使用成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学材料 激光 相互作用 过程 实时 监测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种光学材料与激光相互作用过程的实时监测装置,其特征在于:包括分别与光学材料光路连接的辐照激光光源、探测光源、光电探测器、散射光探测器和荧光探测器;所述探测光源与光学材料之间设有探测光第一聚焦装置;所述光学材料与光电探测器之间依次设有探测光第二聚焦装置、探测光滤光装置和空间滤波器;所述光学材料与散射光探测器之间依次设有散射光收集装置和散射光滤光装置;所述光学材料与荧光探测器之间依次设有荧光收集装置和荧光滤光装置。
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