[发明专利]一种提高红外辐射成像分辨率的方法及装置在审
申请号: | 201410295852.8 | 申请日: | 2014-06-27 |
公开(公告)号: | CN104034704A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 陈坚;吴令奇;吴周令 | 申请(专利权)人: | 无锡利弗莫尔仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所 34115 | 代理人: | 金凯 |
地址: | 214135 江苏省无锡市无锡新区太湖国*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种提高红外辐射成像分辨率的方法及装置,本发明通过采用多个聚焦的激光束对待测样品进行分区域辐照成像,获得待测样品上不同区域的一系列的二维红外辐射图像;利用在可见光波段的辐照激光能够聚焦成比较小的光斑这一特性,并且通过合理控制各个激光辐照点之间的距离,实现了利用具有较大像素尺寸的红外探测器阵列来获得较小尺寸的激光辐照点的红外辐射信息,突破了红外探测器阵列的像素尺寸对成像分辨率的限制,大大提高了激光激发红外辐射成像的分辨率,有助于拓展该技术的应用领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 红外 辐射 成像 分辨率 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种提高红外辐射成像分辨率的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:(1)将处于可见光波段的多个激光束聚焦到待测样品的某一区域;(2)调整待测样品上各个激光辐照点之间的距离,使其均大于红外探测器阵列的像素尺寸;(3)采用红外探测器阵列采集待测样品上所有激光辐照点的图像;(4)改变激光束在待测样品上的聚焦区域,重复上述步骤(2)和(3),得到待测样品的全部区域的激光激发红外辐射图像信息。
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