[发明专利]AMOLED的像素测试电路及像素测试电路的测量方法有效
| 申请号： | 201410280857.3 | 申请日： | 2014-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN105448215B | 公开（公告）日： | 2018-10-02 |
| 发明（设计）人： | 董杭;左文霞;颜圣佑;王承贤 | 申请（专利权）人： | 上海和辉光电有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/3225 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 姜怡;阚梓瑄 |
| 地址： | 201500 上海市金山区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种像素测试电路，其用于通过量测机台测量AMOLED的像素元件的参数，其包括：多个像素电路组，所述多个像素电路组的任一个包括多个像素电路，所述多个像素电路为相同的电路且彼此连接；以及至少一个开关电路，所述开关电路由多个薄膜场效应晶体管构成，设置于所述多个像素电路组之间，使所述多个像素电路组彼此构成并联连接；其中所述开关电路用于连接或者断开所述多个像素电路组的并联连接。 | ||
| 搜索关键词： | amoled 像素 测试 电路 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种像素测试电路，其用于通过量测机台测量AMOLED的像素元件的参数，其特征在于，包括：多个像素电路组，所述多个像素电路组的任一个包括多个像素电路，所述多个像素电路为相同的电路且彼此连接；以及至少一个开关电路，所述开关电路由多个薄膜场效应晶体管构成，设置于所述多个像素电路组之间，使所述多个像素电路组彼此构成并联连接；其中所述开关电路用于连接或者断开所述多个像素电路组的并联连接。
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