[发明专利]固态成像装置和半导体器件有效
申请号: | 201410255604.0 | 申请日: | 2014-06-10 |
公开(公告)号: | CN104243866B | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 大仓俊介;森下玄 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H04N5/3745 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了一种小尺寸廉价固态成像装置。包括在固态成像装置的逐次比较型A/D转换器中的D/A转换器包括多路复用器,当执行粗略A/D转换时,选择参考电压VR0至VR16的任一个并且设置其作为模拟参考信号,以及当执行精细A/D转换时,选择参考电源VR0至VR16的参考电压VR(n‑1)至VR(n+2);以及包括电容器阵列,当执行精细A/D转换时,基于参考电压VR(n‑1)至VR(n+2)而生成模拟参考信号。因此能够不使用冗余电容器而减小参考电压的建立误差。 | ||
搜索关键词: | 固态 成像 装置 半导体器件 | ||
【主权项】:
1.一种固态成像装置,包括:像素电路,所述像素电路中的每个像素电路输出具有与入射光通量对应的电压的模拟像素信号;参考电压生成电路,其生成第一至第N个参考电压;以及逐次比较型A/D转换器,所述逐次比较型A/D转换器中的每个逐次比较型A/D转换器基于所述第一至第N个参考电压执行对所述模拟像素信号的A/D转换;其中所述A/D转换包括用于执行第一正常比较操作的粗略A/D转换以及用于执行第二正常比较操作和冗余比较操作的精细A/D转换,其中所述逐次比较型A/D转换器包括:D/A转换器,其将数字参考信号转换为模拟参考信号;比较器,其将所述模拟像素信号与所述模拟参考信号的幅度进行比较并且由此输出比较结果;以及逐次逼近寄存器,其基于所述比较器的所述比较结果进行操作,以使得所述模拟参考信号逼近所述模拟像素信号的方式来生成所述数字参考信号,以及其中,所述D/A转换器包括:多路复用器,当执行所述粗略A/D转换时,所述多路复用器选择所述第一至第N个参考电压中的的任何参考电压并且将所选择的参考电压施加至所述比较器作为所述模拟参考信号,并且当执行所述精细A/D转换时,所述多路复用器选择所述第一至第N个参考电压中的第(n‑1)至第(n+2)个参考电压;以及电容器阵列,当执行所述精细A/D转换时,所述电容器阵列基于由所述多路复用器选择的所述第(n‑1)至第(n+2)个参考电压生成所述模拟参考信号。
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