[发明专利]显示屏的厚度均匀性检测方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201410234495.4 | 申请日： | 2014-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN104019752A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 朱劲野 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01B11/03 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 杜秀科 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种显示屏的厚度均匀性检测方法、装置及系统，以准确检测出显示屏的厚度异常位置，提高产品的可管控性。检测方法包括：提取显示屏显示单色画面时每一条摩尔纹的最低亮度曲线；计算每一条最低亮度曲线的横向平均位置坐标；计算每一条最低亮度曲线上设定离散点的横向位置坐标相对横向平均位置坐标的偏离值；针对每一条最低亮度曲线，当所述偏离值超出设定的允许偏离范围时，根据所述偏离值对应的离散点坐标确定显示屏的厚度异常位置。 | ||
| 搜索关键词： | 显示屏 厚度 均匀 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种显示屏的厚度均匀性检测方法，其特征在于，包括：提取显示屏显示单色画面时每一条摩尔纹的最低亮度曲线；计算每一条所述最低亮度曲线的横向平均位置坐标；计算每一条所述最低亮度曲线上设定离散点的横向位置坐标相对横向平均位置坐标的偏离值；针对每一条所述最低亮度曲线，当所述偏离值超出设定的允许偏离范围时，根据所述偏离值对应的离散点坐标确定显示屏的厚度异常位置。
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