[发明专利]样品原子能谱分析仪在审

专利信息
申请号: 201410230746.1 申请日: 2014-05-28
公开(公告)号: CN104020141A 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 储冬红;彭飞;郭睦庚;严方园 申请(专利权)人: 成都中远千叶科技有限公司
主分类号: G01N21/63 分类号: G01N21/63
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610100 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 样品原子能谱分析仪,其特征在于,主要包括:光源装置,光束调光装置,光束控制装置,聚焦装置,样品分析装置,样品汽化装置,样品导入装置,高压正极装置,高压负极装置,信号转换装置,信号显示与记录装置;其中,光源装置含有高能发射电极,电极材料为氧化鎶鈇合金,光束调光装置含有七棱圆柱偏振透镜,该透镜表面覆盖有溴化镥锘纳米复合材料透光膜,光束控制装置含有滤光谐波透镜,该透镜两面都镀有厚度为20nm的铬酸镝鈩复合材料滤光膜,高压正极装置含有高电位电极,该电极材料为碳化钷铪合金。
搜索关键词: 样品 原子能 谱分析
【主权项】:
样品原子能谱分析仪,其特征在于,主要包括:1‑‑光源装置,2‑‑光束调光装置,3‑‑光束控制装置, 4‑‑聚焦装置,5‑‑样品分析装置,6‑‑样品汽化装置, 7‑‑样品导入装置,8‑‑高压正极装置,9‑‑高压负极装置, 10‑‑信号转换装置,11‑‑信号显示与记录装置;其中,光源装置(1)含有高能发射电极,电极材料为氧化鎶鈇合金,光束调光装置(2)含有七棱圆柱偏振透镜,该透镜表面覆盖有溴化镥锘纳米复合材料透光膜,光束控制装置(3)含有滤光谐波透镜,该透镜两面都镀有厚度为20 nm的铬酸镝鈩复合材料滤光膜,高压正极装置(8)含有高电位电极,该电极材料为碳化钷铪合金。
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