[发明专利]激光勘查装置有效
| 申请号： | 201410209052.X | 申请日： | 2014-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN104020109B | 公开（公告）日： | 2018-03-13 |
| 发明（设计）人： | 李阳;杨洋 | 申请（专利权）人： | 李阳;杨洋 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙)11391 | 代理人： | 康正德,薛峰 |
| 地址： | 100022 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种激光勘查装置，发射用于现场勘查的光束，包括多个半导体激光单元，以阵列方式设置在底座上；汇聚反射镜，设置在半导体激光单元阵列上方以反射多个半导体激光单元发射的激光汇聚到出光口以形成出射光束；和调焦透镜部件，设置在出光口，调焦透镜部件用于对出射光束进行调节。本发明的激光勘查装置在勘探过程中不会破坏痕迹。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 勘查 装置 | ||
【主权项】：
一种激光勘查装置，发射用于现场勘查的光束，其特征在于，包括：多个半导体激光单元(30)，以阵列方式设置在底座(10)上；汇聚反射镜(40)，设置在半导体激光单元阵列上方以反射所述多个半导体激光单元(30)发射的激光汇聚到进光口(21)，经过设置在所述进光口(21)处的散射片进行混合，通过出光口(22)形成出射光束；和调焦透镜部件(20)，设置在所述出光口(22)，调焦透镜部件(20)用于对所述出射光束的发射角度进行调节；所述汇聚反射镜(40)朝向所述半导体激光单元(30)的一面为反射镜面(41)，所述反射镜面(41)呈阶梯状，所述反射镜面(41)每个阶梯面上均设置有多个抛物面反射镜(42)，所述抛物面反射镜(42)的数量与所述半导体激光单元(30)的数量相同，并且每个所述抛物面反射镜(42)与每个所述半导体激光单元(30)的位置一一对应以反射所述半导体激光单元(30)发射的激光；或者，所述汇聚反射镜(40)朝向所述半导体激光单元(30)的一面为反射镜面(41)，所述反射镜面(41)呈抛物面状。
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