[发明专利]基于二次平台线阵CCD的倾角测量方法有效

专利信息
申请号: 201410208601.1 申请日: 2014-05-16
公开(公告)号: CN103983247A 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 陈兴林;刘帅;刘宇维;杜靖 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01C9/00 分类号: G01C9/00;G05D3/12
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 杨立超
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于二次平台线阵CCD的倾角测量方法,涉及基于二次平台的倾角测量方法,属于超精密仪器设备测量系统的测量方法。为了解决采用光栅式编码器不适用于二次平台及六自由度气浮台系统的问题以及采用倾角传感器在二次平台动态工作时精度差的问题。本发明通过旋转半导体激光器旋转扫描周围的线阵CCD,在线阵CCD屏幕上留下高度不等的光点,得到线阵CCD屏幕上光点的高度数据。将相邻的线阵CCD上光点的高度数据信号发送给数字信号处理器。根据光点的高度信号求解光点构成平面的倾角α,根据误差对倾角α进行补偿,将补偿后的倾角α0作为当前平台的倾角。本发明适用于二次平台的倾角测量。
搜索关键词: 基于 二次 平台 ccd 倾角 测量方法
【主权项】:
一种基于二次平台线阵CCD的倾角测量方法,所述方法是基于二次平台线阵CCD的倾角测量系统来实现的,所述系统包括:二次平台,整个平台,旋转半导体激光器,线阵CCD,信号处理器(DSP);将旋转半导体激光器设置在二次平台表面,将线阵CCD设置在整个平台四周,设置线阵CCD的感光面法线的交点在整个平台中心;二次平台可在整个平台上运动,线阵CCD连接信号处理器;其特征在于所述方法是按照以下步骤实现的:步骤一、旋转半导体激光器旋转扫描周围的线阵CCD,在线阵CCD屏幕上留下高度不等的光点,得到线阵CCD屏幕上光点的高度数据;将相邻的线阵CCD上光点的高度数据信号发送给数字信号处理器;步骤二、根据DSP中光点的高度信号求解光点构成平面的倾角α;步骤三、根据旋转半导体激光器打到线阵CCD及DSP接到信号后经历的响应时间误差对倾角α进行补偿,将补偿后的倾角α0作为当前平台的倾角。
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