[发明专利]减小GaN基蓝紫光端发射激光器电子泄漏的方法有效

专利信息
申请号: 201410204718.2 申请日: 2014-05-15
公开(公告)号: CN103956653B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 乐伶聪;赵德刚;江德生;刘宗顺;陈平;杨静;何晓光;李晓静;杨辉 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/06 分类号: H01S5/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种减小GaN基蓝紫光端发射激光器中电子泄漏的方法,包括以下步骤步骤1在一蓝宝石衬底上依序制作低温成核层、n型接触和电流扩展层、n型AlGaN限制层、n型GaN波导层、InGaN/GaN量子阱有源区、InGaN插入层、AlGaN电子阻挡层、p型GaN波导层、p型AlGaN限制层和p型GaN接触层;步骤2采用光刻的方法,在p型GaN接触层上面的一侧向下刻蚀,刻蚀深度到达n型接触和电流扩展层,使n型接触和电流扩展层的表面形成一台面;步骤3在n型接触和电流扩展层表面形成的台面上制作n型电极;步骤4在p型GaN接触层的上表面制作一p型电极,完成制备。本发明可以提高电子跃过AlGaN电子阻挡层的有效势垒高度,从而减小电子泄漏,提高GaN基蓝紫光激光器性能。
搜索关键词: 减小 gan 紫光 发射 激光器 电子 泄漏 方法
【主权项】:
一种减小GaN基蓝紫光端发射激光器中电子泄漏的方法,包括以下步骤:步骤1:在一蓝宝石衬底上依序制作低温成核层、n型接触和电流扩展层、n型AlGaN限制层、n型GaN波导层、InGaN/GaN量子阱有源区、InGaN插入层、AlGaN电子阻挡层、p型GaN波导层、p型AlGaN限制层和p型GaN接触层;通过在所述有源区和所述电子阻挡层之间插入不掺杂且很薄的所述InGaN插入层,增大了AlGaN电子阻挡层左侧的导带带阶,提高了电子跃过AlGaN电子阻挡层的有效势垒高度,从而减小电子泄漏,提高GaN基蓝紫光激光器性能;其中很薄的所述InGaN插入层,其厚度为1‑10nm;步骤2:采用光刻的方法,在p型GaN接触层上面的一侧向下刻蚀,刻蚀深度到达n型接触和电流扩展层,使n型接触和电流扩展层的表面形成一台面;步骤3:在n型接触和电流扩展层表面形成的台面上制作n型电极;步骤4:在p型GaN接触层的上表面制作一p型电极,完成制备。
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