[发明专利]一种校验值生成方法及系统、存储芯片有效
| 申请号： | 201410196938.5 | 申请日： | 2014-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN104015494A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 刘卫臣 | 申请（专利权）人： | 珠海艾派克微电子有限公司 |
| 主分类号： | B41J2/175 | 分类号： | B41J2/175 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;钟日红 |
| 地址： | 519075 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种校验值生成方法及系统、存储芯片，克服目前存储芯片计算校验值时耗时较长以及能耗较高的不足。该方法包括：获取有关成像盒的常改变数据；获取基于有关成像盒的不常改变数据预先生成的中间校验数据；采用预设算法对常改变数据及中间校验数据进行计算，获得校验值。本申请的实施例省略了对有关成像盒的不常改变数据进行计算的过程，减少了计算校验值时的计算量，提高计算效率，缩短计算时间以及打印成像设备整体的响应时间，降低存储芯片的能耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校验 生成 方法 系统 存储 芯片 | ||
【主权项】：
一种校验值生成方法，用于存储芯片根据所存储的有关成像盒的数据生成所述校验值，其中，所述有关成像盒的数据包括常改变数据和不常改变数据，该方法包括：获取所述常改变数据；获取基于所述不常改变数据预先生成的中间校验数据；采用预设算法对所述常改变数据及中间校验数据进行计算，获得所述校验值。
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