[发明专利]一种基于模块分析技术的二维光纤光谱图像修复算法

摘要

本发明公开了一种基于模块分析技术的二维光纤光谱图像修复方法，该方法能快速准确地从二维光纤光谱图像中找到宇宙射线污染区域，并进行修复。包括如下步骤：通过对二维光纤光谱图像进行下采样运算，得到二维光纤光谱图像的下采样结果图；运行本地模块分析函数，对二维光纤光谱图像的下采样结果图进行逐模块的分析，判定其是否为宇宙射线污染区域，并进行模块标定；对下采样结果图标定的模块进行映射运算，找到其在原始二维光纤光谱图像的对应模块，重新标定；按照原始光纤光谱图像的标定模块，通过自相似指导的方法，逐模块的对原始二维光纤光谱图像进行修复，最后获得修复后的光纤光谱图像。本发明能够达到去除光纤光谱图像中宇宙射线污染区域的效果。

主权项

一种基于模块分析技术的二维光纤光谱图像修复方法，其特征在于，包括以下步骤：1)通过对二维光纤光谱图像进行下采样运算，得到二维光纤光谱图像的下采样结果图；2)运行本地模块分析函数，对二维光纤光谱图像的下采样结果图进行逐模块的分析，判定其是否为宇宙射线污染区域，并进行模块标定；具体方法为：S＝{M|F(M)＞Y}              (1)$F\left(M\right)=\underset{j=0}{\overset{k}{\mathrm{\Σ}}}\underset{i=0}{\overset{k}{\mathrm{\Σ}}}|(x_j,y_i)-(x_j,y_{i+1})|---\left(2\right)$S是污染模块的集合，M是待检测的模块，经过分析函数F得到一个与M相对应的值，Y为判定阈值，当对M进行分析后得到的值大于Y，说明模块M属于污染模块，加入到集合S中；分析函数F本身是一个类卷积运算，逐行对像素求差，并取绝对值；k为模块的尺寸；i，j为像素行列的标号，x_j为第j列的行像素，y_i为第i行的列像素，y_i+1为第i+1行的列像素；3)对下采样结果图标定的模块进行映射运算，找到其在原始二维光纤光谱图像的对应模块，重新标定；4)按照原始光纤光谱图像的标定模块，通过自相似指导的方法，逐模块的对原始二维光纤光谱图像进行修复，最后获得修复后的光纤光谱图像。