[发明专利]一种双向DFT对称补偿相位测量方法及其装置有效
申请号: | 201410161972.9 | 申请日: | 2014-04-21 |
公开(公告)号: | CN103941093B | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
发明(设计)人: | 黄翔东;南楠;余佳 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01R25/00 | 分类号: | G01R25/00;G06F17/14 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 温国林 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种双向DFT对称补偿相位测量方法及其装置,方法包括分别对样本做前向和后向两次点数均为N的DFT变换;提取相位测量值和对这两个相位测量值做叠加平均即得{x(n)}中心样点处的相位测量结果。装置包括模数转化器、DSP器件、驱动和显示模块,待测频率为f0的信号经过模数转化器采样得到样本序列x(n),以并行数字输入的形式进入DSP器件,经过DSP器件的内部算法处理,得到信号的参数估计;驱动和显示模块显示出相位测量结果、测相方差和克拉美罗理论下限。本方法对相位进行了无偏估计,填补了对信号相位参数做有效精确估计方法的空白,实现了对复指数信号的高精确相位测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 双向 dft 对称 补偿 相位 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种双向DFT对称补偿相位测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:(1)分别对样本做前向和后向两次点数均为N的DFT变换;(2)从前向DFT谱的峰值谱位置k=k*和后向DFT谱的对称峰值谱位置k=N‑k*中分别提取出对应的相位测量值和(3)对这两个相位测量值和做叠加平均即得{x(n)}中心样点x(0)处的相位测量结果;所述相位测量值具体为:所述相位测量值具体为:其中,θ0为信号相位,δ为频偏值,k*为峰值谱位置值;将与进行叠加取平均,可得
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