[发明专利]气密地密封的检孔仪探测器顶端无效
| 申请号： | 201410135075.0 | 申请日： | 2014-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN104102005A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | M.K.比诺;E.C.希菲尔 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G02B27/00 | 分类号： | G02B27/00;G01V8/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 肖日松;严志军 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及气密地密封的检孔仪探测器顶端。一种用于检查区域的光学系统，包括光学壳体和容纳在光学壳体内的光学元件。光学壳体容纳一个或多个光学纤维。容纳在光学壳体内的光学元件使光集中到一个或多个光学纤维上。密封部件相对于光学壳体而密封光学元件。密封部件包括固化的玻璃熔块材料。在一个示例中，密封部件环形地设置在光学壳体与光学元件之间。还提供了形成光学系统的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 气密 密封 检孔仪 探测器 顶端 | ||
【主权项】：
一种用于检查区域的光学系统，所述光学系统包括：光学壳体，所述光学壳体构造成容纳一个或多个光学纤维；光学元件，所述光学元件容纳在所述光学壳体内，用于使光集中到所述一个或多个光学纤维上；以及密封部件，所述密封部件构造成相对于所述光学壳体而密封所述光学元件，所述密封部件包括固化的玻璃熔块材料。
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