[发明专利]一种姿态检测方法和辅助装置有效
申请号: | 201410120765.9 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN103884322A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 张吒;张松靖;郝璐;郑理 | 申请(专利权)人: | 北京机电工程研究所 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 10007*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例公开一种姿态检测方法和辅助装置。涉及不规则表面物体姿态测量技术,有效提高了复杂表面目标的姿态控制精度。该装置包括一个基座和至少3个柱形定位杆,所述定位杆垂直固定在所述基座上且长度可调节,所述基座外表面有至少一个平面,该平面中的至少一个和定位杆垂直但不与定位杆相连。主要用于不规则表面物体姿态测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 姿态 检测 方法 辅助 装置 | ||
【主权项】:
一种姿态检测方法,其特征在于,用于外表面非平面的物体姿态检测,包括:利用计算机在相同坐标系下建立被测目标三维模型和辅助装置三维模型,所述辅助装置包括一个基座和至少3个柱形定位杆,所述定位杆垂直固定在所述基座上且长度可调节,所述基座外表面有至少一个平面,该平面中的至少一个和定位杆垂直但不与定位杆相连;记录定位杆在被测目标三维模型上的投影点;在被测目标实体表面标注投影点的位置;根据被测目标投影点的坐标换算辅助装置定位杆的长度;将辅助装置实体放置在被测目标实体表面上,使辅助装置的定位杆端点与被测目标实体的投影点一一对应;基座上表面、侧表面为测量基准平面,利用辅助装置实体的基准平面进行被测目标实体姿态的测量,通过测量基座上基准平面的姿态进行被测目标实体的姿态调整。
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