[发明专利]使用多个信号路径的传感器自诊断有效
申请号: | 201410097855.0 | 申请日: | 2014-03-14 |
公开(公告)号: | CN104048692A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | F·拉斯博尼格;M·莫茨;W·谢尔;W·格拉尼格;M·斯特拉瑟;B·谢弗;G·皮尔彻;F·加斯廷格;D·哈默施密特 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华;王冬 |
地址: | 德国诺伊*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 各实施例涉及用于在传感器和其它系统中使用多个信号路径的自诊断和/或错误检测的系统和方法。在一个实施例中,传感器系统包括至少两个传感器、比如磁场传感器和与该传感器中的每个传感器关联的分离的信号路径。第一信号路径可以耦合到第一传感器和第一数字信号处理器(DSP),并且第二信号路径可以耦合到第二传感器和第二DSP。来自第一DSP的信号与来自第二DSP的信号可以片上或者片外比较以检测与传感器系统的操作有关的故障、错误或者其它信息。这些系统和/或方法的实施例可以被配置用于满足或者超过相关安全或者其它行业标准、比如安全完整性等级(SIL)标准。 | ||
搜索关键词: | 使用 信号 路径 传感器 诊断 | ||
【主权项】:
一种单片集成电路传感器系统,包括:第一传感器器件,被配置用于感测物理特性并且被耦合到半导体芯片上的用于第一传感器信号的包括第一数字信号处理器(DSP)的第一信号路径,所述第一DSP提供第一输出信号;以及第二传感器器件,被配置用于感测与所述第一传感器器件相同的物理特性并且被耦合到所述半导体芯片上的用于第二传感器信号的第二信号路径,所述第二信号路径与所述第一信号路径相异并且包括第二DSP,所述第二DSP提供第二输出信号,其中所述第一输出信号和所述第二输出信号的比较可以检测所述传感器系统中的错误。
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