[发明专利]使用回送电路检测和校正发射器LO泄漏的电路和方法有效
| 申请号： | 201410093865.7 | 申请日： | 2014-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN104052507B | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 范建勋;R·阿拉维;S·R·巴尔;D·J·迈克劳瑞恩 | 申请（专利权）人： | 美国亚德诺半导体公司 |
| 主分类号： | H04B1/04 | 分类号： | H04B1/04 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 刘倜 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及使用回送电路检测和校正发射器LO泄漏的电路和方法。所述回送电路将发射器和接收器连接。通过测量接收器上的DC信号，测量接收到的LO信号与接收器LO信号之间的相位差，以及对由于使用非线性混频器而产生的LO谐波进行滤波，可以估计TX LO泄漏。通过打开和关闭回送路径，或者改变回送路径的增益，或者将回送的TX信号的相位翻转，可以测量接收器上的DC信号。该方法可用于初始化或跟踪校准方案。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 回送 电路 发射器 lo 泄漏 校准 方案 | ||
【主权项】：
一种用于检测和校正具有发射器和接收器的系统中的发射器LO泄漏的电路，所述电路包括：耦合单元，其与所述发射器的输出和所述接收器的输入耦合，其中所述耦合单元产生耦合信号；以及估计与校正单元，其与所述发射器的输入和所述接收器的输出耦合，其中所述估计与校正单元被配置为：基于(1)所述耦合信号的反相形式和(2)所述耦合信号的非反相形式之间的差估测所述发射器LO泄漏；以及基于所述估测对发射信号应用校正。
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