[发明专利]一种太阳能电池片的PID测试方法有效
| 申请号： | 201410092255.5 | 申请日： | 2014-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN103904993A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 万松博;王栩生;章灵军 | 申请（专利权）人： | 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 |
| 主分类号： | H02S50/10 | 分类号： | H02S50/10 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 陶海锋 |
| 地址： | 215129 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种太阳能电池片的PID测试方法，包括如下步骤：(1)测量太阳能电池片的初始并联电阻；(2)将太阳能电池片置于干燥空气中；(3)在太阳能电池片前表面放置1~100个尖锐型导体；(4)在太阳能电池片和尖锐型导体之间加载电压；(5)测试太阳能电池片的最终并联电阻；(6)对比初始并联电阻与最终并联电阻，评估太阳能电池片的PID衰减情况。本发明可以在电池片端检测太阳能电池片的抗PID能力，测试流程更简单，测试速度更快，测试成本更低，填补了在太阳能电池片端进行PID测试的空白。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 太阳能电池 pid 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种太阳能电池片的PID测试方法，其特征在于：包括如下步骤：(1) 测量太阳能电池片的初始并联电阻；(2) 将太阳能电池片置于干燥空气中；(3) 在太阳能电池片前表面放置1~100个尖锐型导体，尖锐型导体的尖端部朝向太阳能电池片并与太阳能电池片之间间隔布置；(4) 在太阳能电池片和尖锐型导体之间加载电压；(5) 测试太阳能电池片的最终并联电阻；(6) 对比所述初始并联电阻与最终并联电阻，评估太阳能电池片的PID衰减情况。
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