[发明专利]用于介电膜的提高速率的化学机械抛光组合物在审

专利信息
申请号: 201410073709.4 申请日: 2007-07-12
公开(公告)号: CN103937411A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 罗伯特.瓦卡西;本杰明.拜尔;陈湛;杰弗里.张伯伦 申请(专利权)人: 卡伯特微电子公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02;H01L21/3105
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王华芹
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供一种化学机械抛光组合物,其基本上由二氧化硅、氧化剂、季铵化合物、及水组成。本发明进一步提供一种使用前述抛光组合物来化学机械抛光基板的方法。当用该抛光组合物抛光介电膜时,其提供提高了的抛光速率。
搜索关键词: 用于 介电膜 提高 速率 化学 机械抛光 组合
【主权项】:
一种化学机械抛光组合物,其基本上由以下物质组成:(a)二氧化硅,其具有20nm至30nm的平均初级粒径;(b)氧化剂,其中该氧化剂为过氧化氢与铁(III)化合物的组合;(c)季铵化合物,其包含具有结构R1R2R3R4N+的阳离子,其中R1、R2、R3及R4独立地选自C2‑C6烷基及C7‑C12芳烷基;及(d)水,其中该抛光组合物具有2至4的pH值,和该抛光组合物不含有腐蚀抑制剂。
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