[发明专利]一种准完全最大距离随机测试方法无效
申请号: | 201410060868.0 | 申请日: | 2014-02-24 |
公开(公告)号: | CN103870369A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 吴悦;邬晟峰;徐拾义 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种准完全最大距离随机测试方法。其测试步骤如下:从文本中读取电路的初级输入数n,指定初始种子n位二进制码t0,期望生成测试码数量2m;根据初级输入数n,生成符合最大总笛卡尔距离的下标奇数测试码集合;在获得下标奇数测试码集合的基础上,根据最大海明距离的规则,进一步获得下标偶数测试码集合,形成中间测试集;中间测试集与指定测试种子t0作异或运算,获得最终完整测试集。本发明的目的在于解决现阶段电路规模急剧增大,集成电路快速发展的条件下,现有的随机测试算法不足以存在过多冗余测试码,为达到理想的故障覆盖率需要巨大的资源开销以及时间开销的问题。本发明的特点在于提高测试效率的同时提高故障覆盖率。 | ||
搜索关键词: | 一种 完全 最大 距离 随机 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种准完全最大距离随机测试方法,其特征在于:测试步骤如下: 步骤1,从文本中读取电路的初级输入数n,指定初始种子n位二进制码的指定测试种子t0,期望生成测试码数量2m;步骤2,根据初级输入数n,生成符合最大总笛卡尔距离的下标奇数测试码集合;步骤3,在获得下标奇数测试码集合的基础上,根据最大海明距离的规则,进一步获得下标偶数测试码集合,形成中间测试集; 步骤4,中间测试集与指定测试种子t0作异或运算,获得最终完整测试集。
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