[发明专利]一种高纯铜中碳硫元素分析方法有效
| 申请号： | 201410037569.5 | 申请日： | 2014-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN103728199A | 公开（公告）日： | 2014-04-16 |
| 发明（设计）人： | 黄桂华;任发强 | 申请（专利权）人： | 上海新阳半导体材料股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N5/00 | 分类号： | G01N5/00 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 贾慧琴 |
| 地址： | 201616 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种高纯铜中碳硫元素分析方法，该方法包含：步骤1，对高纯铜样品进行前处理；步骤2，上机测试：记录所称取的高纯铜样品质量m和所用助溶剂的质量m1，包含样品与助溶剂的总质量为m0，m0=m1+m，使用碳硫分析仪分别测定包含样品与助溶剂的总碳含量C碳0、总硫含量C硫0及助溶剂的碳含量C碳1、硫含量C硫1；步骤3，样品中的碳含量C碳按公式（1）计算： |
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| 搜索关键词： | 一种 高纯 铜中碳硫 元素 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种高纯铜中碳硫元素分析方法，其特征在于，该方法包含： 步骤1，对高纯铜样品进行前处理；步骤2，上机测试：记录所称取的高纯铜样品质量m和所用助溶剂的质量m1，包含样品与助溶剂的总质量为m0，m0= m1+m，使用碳硫分析仪分别测定包含样品与助溶剂的总碳含量C碳0、总硫含量C硫0及助溶剂的碳含量C碳1、硫含量C硫1；步骤3，样品中的碳含量C碳按公式（1）计算：![]()
其中，样品中的硫含量C硫按公式（2）计算：![]()
从而完成碳硫元素分析。
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