[发明专利]分层介质的物位测量方法有效
| 申请号： | 201410031100.0 | 申请日： | 2014-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN103968916B | 公开（公告）日： | 2017-07-14 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·韦伯;斯特凡·施魏格尔 | 申请（专利权）人： | 西克股份公司 |
| 主分类号： | G01F23/284 | 分类号： | G01F23/284 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人： | 周靖,郑霞 |
| 地址： | 德国瓦*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分层介质的物位测量方法。其中提供了一种测量容器（12）内的物位的方法，所述容器具有第一介质（14）和至少一种在该第一介质上所覆盖的第二介质（16），特别是泡沫层，执行该方法时会发射电磁信号，特别是沿布置在容器（12）内的探针（28）发射电磁信号，并且记录容器（12）内反射的信号的信号曲线（S），其中借助信号曲线（S）确定到第一介质（14）和/或到第二介质（16）的分界面（18、20）的信号渡越时间（t），并由信号渡越时间（t）确定第一介质（14）的物位和/或确定第二介质（16）的物位。在这种情况下，根据自基准位置（t0）开始积分后所得信号曲线（S）来识别分界面（18、20）。 | ||
| 搜索关键词： | 分层 介质 测量方法 | ||
【主权项】：
一种测量容器(12)内的物位的方法，所述容器具有第一介质(14)和至少一种在所述第一介质上所覆盖的第二介质(16)，执行所述方法时会发射电磁信号，并且记录所述容器(12)内反射的信号的信号曲线(S)，其中借助信号曲线(S)确定到所述第一介质(14)和/或到所述第二介质(16)的分界面(18、20)的信号渡越时间(t)，并由所述信号渡越时间(t)确定所述第一介质(14)的物位和/或确定所述第二介质(16)的物位，其特征在于，自基准位置(t0)开始积分后所得的积分后信号曲线(IS(t))被构成为各观测时刻(t)的函数，用于积分后信号曲线(IS(t))的基准值(IMedium)预先在仅用第一介质(14)填充容器(12)的情况下确定，并且通过将积分后信号曲线(IS(t))与所述基准值(IMedium)进行比较来识别所述分界面(18、20)。
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